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SMDクリスタルはんだ（？）の問題と推奨されるテスト手順
MCUには32.768 kHz SMDクリスタル（データシート）を使用しています。こちらが水晶のレイアウト部分です。 これは実際のPCBからの眺めです 部品を手はんだで実装し、約30個のモジュールを製作しました。 ほとんどのモジュールの水晶は最初から機能していませんでしたが、その下にもう少しはんだを付けて水晶を再はんだ付けすることで解決しました。興味深いのは、ピンセットでクリスタルのピンに触れると、クリスタルが動き始めることです。これは、水晶の信号のオシロスコープビューです。 グリッチはピンセットでパスに触れたところで、振動が始まります。 もう1つの事実は、C451キャップのパスに触れるとボードのクリスタルの一部が機能すること、C441キャップのパスに触れると一部が機能し始めることです（たとえば、C451キャップのパスに触れることで機能する場合、タッチしても機能しません） C441キャップのパス）。 これが結晶の下のはんだに関連しているかどうか疑問に思いました（おそらく接触面が不均一であるか、私が考えられない別の理由です）。または、純粋なはんだ関連の問題ではない場合、結晶の問題が解決するまで何度か再はんだ付けプロセスを実行する必要があったためです。上記のPCBビューでは、余分なはんだが水晶の側面から突き出ています（別のパッドまたは水晶のケースへの短絡はありません）。水晶のピンとPCBパッドの間に確実な接続があるはずですが、それでも問題は解決しません残ります。 もう1つの問題は、4枚のボードではんだを付け直した後に動作するという経験をしたことですが、翌日にテストすると、水晶にも同じ問題が発生します。 質問1誰かが同様の問題を経験したか、または実際の問題が何であるかを考えることができましたか？ 質問 2ボードはフィールドに配置されます。ボードがここで機能するのではないかと心配していますが、お客様が使用する必要がある場合は問題があります。それらをテストする方法は、モジュールを1日に数回起動し、障害がないかどうかを観察して、このテストを1週間に広げることです。結晶がおそらく近くの機能で正常に動作するかどうかをテストする（または表示を取得する）方法/テクニックはありますか？ PCBを顕微鏡で検査したところ、トレース間で短絡が発生していないか、水晶のケースから任意の経路へのはんだ接続がないことがわかりました。 問題のあるボードで、ボードから取り外したクリスタルを正常に動作するように交換したので、コンポーネントの問題ではないはずです PCBのフラックス残留物をクリーニングしましたが、結果は変わりません そのようなタイプのSMDクリスタルをはんだ付けする特別な手順/技術があるかどうかを検索しましたが、関連情報は見つかりませんでした。 編集 私は別のコンデンサ値を配置しようとしましたが、助けにはなりませんでした。 EDIT2 これは、TIのリファレンスデザインのガーバービューです。これはオプションの水晶であるため、0オームの抵抗（R451、R441）を介して接続されます。