新しいHDDが存在しないはずのエラーを一度に報告するとはどういう意味ですか?


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マシンにいくつかの新しいHDDを取り付けたところ、そのうちの1つに2つのエラーが報告されていることに気付いたので、それを実行smartctl -xしてこれを取得しました。

smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.4.0-141-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Hitachi/HGST Ultrastar 7K4000
Device Model:     HGST HUS724040ALA640
Serial Number:    [REDACTED]
LU WWN Device Id: [REDACTED]
Firmware Version: MFAOAC50
User Capacity:    4,000,787,030,016 bytes [4.00 TB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Form Factor:      3.5 inches
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 3.0, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is:    Tue Jan  1 05:33:21 2019 PST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
AAM feature is:   Unavailable
APM feature is:   Disabled
Rd look-ahead is: Enabled
Write cache is:   Enabled
ATA Security is:  Disabled, NOT FROZEN [SEC1]
Wt Cache Reorder: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x82) Offline data collection activity
                    was completed without error.
                    Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                    without error or no self-test has ever 
                    been run.
Total time to complete Offline 
data collection:        (   24) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x5b) SMART execute Offline immediate.
                    Auto Offline data collection on/off support.
                    Suspend Offline collection upon new
                    command.
                    Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    No Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    ( 543) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAGS    VALUE WORST THRESH FAIL RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     PO-R--   100   100   016    -    0
  2 Throughput_Performance  P-S---   138   138   054    -    74
  3 Spin_Up_Time            POS---   100   100   024    -    572
  4 Start_Stop_Count        -O--C-   100   100   000    -    8
  5 Reallocated_Sector_Ct   PO--CK   100   100   005    -    0
  7 Seek_Error_Rate         PO-R--   100   100   067    -    0
  8 Seek_Time_Performance   P-S---   142   142   020    -    25
  9 Power_On_Hours          -O--C-   100   100   000    -    520
 10 Spin_Retry_Count        PO--C-   100   100   060    -    0
 12 Power_Cycle_Count       -O--CK   100   100   000    -    8
192 Power-Off_Retract_Count -O--CK   100   100   000    -    16
193 Load_Cycle_Count        -O--C-   100   100   000    -    16
194 Temperature_Celsius     -O----   166   166   000    -    36 (Min/Max 22/56)
196 Reallocated_Event_Count -O--CK   100   100   000    -    0
197 Current_Pending_Sector  -O---K   100   100   000    -    0
198 Offline_Uncorrectable   ---R--   100   100   000    -    0
199 UDMA_CRC_Error_Count    -O-R--   200   200   000    -    0
                            ||||||_ K auto-keep
                            |||||__ C event count
                            ||||___ R error rate
                            |||____ S speed/performance
                            ||_____ O updated online
                            |______ P prefailure warning

General Purpose Log Directory Version 1
SMART           Log Directory Version 1 [multi-sector log support]
Address    Access  R/W   Size  Description
0x00       GPL,SL  R/O      1  Log Directory
0x01           SL  R/O      1  Summary SMART error log
0x03       GPL     R/O      1  Ext. Comprehensive SMART error log
0x04       GPL     R/O      7  Device Statistics log
0x06           SL  R/O      1  SMART self-test log
0x07       GPL     R/O      1  Extended self-test log
0x08       GPL     R/O      2  Power Conditions log
0x09           SL  R/W      1  Selective self-test log
0x10       GPL     R/O      1  SATA NCQ Queued Error log
0x11       GPL     R/O      1  SATA Phy Event Counters log
0x20       GPL     R/O      1  Streaming performance log [OBS-8]
0x21       GPL     R/O      1  Write stream error log
0x22       GPL     R/O      1  Read stream error log
0x80-0x9f  GPL,SL  R/W     16  Host vendor specific log
0xe0       GPL,SL  R/W      1  SCT Command/Status
0xe1       GPL,SL  R/W      1  SCT Data Transfer

SMART Extended Comprehensive Error Log Version: 1 (1 sectors)
Device Error Count: 2
    CR     = Command Register
    FEATR  = Features Register
    COUNT  = Count (was: Sector Count) Register
    LBA_48 = Upper bytes of LBA High/Mid/Low Registers ]  ATA-8
    LH     = LBA High (was: Cylinder High) Register    ]   LBA
    LM     = LBA Mid (was: Cylinder Low) Register      ] Register
    LL     = LBA Low (was: Sector Number) Register     ]
    DV     = Device (was: Device/Head) Register
    DC     = Device Control Register
    ER     = Error register
    ST     = Status register
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 2 [1] occurred at disk power-on lifetime: 16878 hours (703 days + 6 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 00 0f 00 01 12 cd a0 31 02 00  Error: UNC at LBA = 0x112cda031 = 4610433073

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 10 00 10 00 01 12 cd a0 30 40 00  1d+08:13:30.021  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 00 00 01 12 63 a0 30 40 00  1d+08:13:30.021  WRITE FPDMA QUEUED
  60 00 10 00 00 00 01 12 cc a0 30 40 00  1d+08:13:30.017  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 10 00 01 12 62 a0 30 40 00  1d+08:13:30.011  WRITE FPDMA QUEUED
  60 00 10 00 00 00 01 12 cb a0 30 40 00  1d+08:13:30.004  READ FPDMA QUEUED

Error 1 [0] occurred at disk power-on lifetime: 10610 hours (442 days + 2 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER -- ST COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC
  -- -- -- == -- == == == -- -- -- -- --
  40 -- 51 01 34 00 01 12 f9 3a fc 02 00  Error: UNC at LBA = 0x112f93afc = 4613290748

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FEATR COUNT  LBA_48  LH LM LL DV DC  Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- == -- == -- == == == -- -- -- -- --  ---------------  --------------------
  60 00 08 00 10 00 00 00 00 01 2c 40 00  2d+01:26:34.533  READ FPDMA QUEUED
  61 00 10 00 08 00 00 57 04 60 00 40 00  2d+01:26:33.675  WRITE FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 3a 30 40 00  2d+01:26:33.386  READ FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 38 30 40 00  2d+01:26:33.384  READ FPDMA QUEUED
  60 02 00 00 00 00 01 12 f9 36 30 40 00  2d+01:26:33.382  READ FPDMA QUEUED

SMART Extended Self-test Log Version: 1 (1 sectors)
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     26741         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

SCT Status Version:                  3
SCT Version (vendor specific):       256 (0x0100)
SCT Support Level:                   1
Device State:                        Active (0)
Current Temperature:                    36 Celsius
Power Cycle Min/Max Temperature:     35/38 Celsius
Lifetime    Min/Max Temperature:     22/56 Celsius
Under/Over Temperature Limit Count:   0/0

SCT Temperature History Version:     2
Temperature Sampling Period:         1 minute
Temperature Logging Interval:        1 minute
Min/Max recommended Temperature:      0/60 Celsius
Min/Max Temperature Limit:           -40/70 Celsius
Temperature History Size (Index):    128 (43)

Index    Estimated Time   Temperature Celsius
  44    2019-01-01 03:26    37  ******************
 ...    ..( 15 skipped).    ..  ******************
  60    2019-01-01 03:42    37  ******************
  61    2019-01-01 03:43    36  *****************
 ...    ..( 20 skipped).    ..  *****************
  82    2019-01-01 04:04    36  *****************
  83    2019-01-01 04:05    35  ****************
 ...    ..(  2 skipped).    ..  ****************
  86    2019-01-01 04:08    35  ****************
  87    2019-01-01 04:09    36  *****************
  88    2019-01-01 04:10    36  *****************
  89    2019-01-01 04:11    35  ****************
 ...    ..( 40 skipped).    ..  ****************
   2    2019-01-01 04:52    35  ****************
   3    2019-01-01 04:53    36  *****************
 ...    ..(  4 skipped).    ..  *****************
   8    2019-01-01 04:58    36  *****************
   9    2019-01-01 04:59    37  ******************
 ...    ..( 30 skipped).    ..  ******************
  40    2019-01-01 05:30    37  ******************
  41    2019-01-01 05:31    36  *****************
  42    2019-01-01 05:32    36  *****************
  43    2019-01-01 05:33    36  *****************

SCT Error Recovery Control:
           Read: Disabled
          Write: Disabled

Device Statistics (GP Log 0x04)
Page  Offset Size        Value Flags Description
0x01  =====  =               =  ===  == General Statistics (rev 2) ==
0x01  0x008  4               8  ---  Lifetime Power-On Resets
0x01  0x018  6      1598892472  ---  Logical Sectors Written
0x01  0x020  6         1386302  ---  Number of Write Commands
0x01  0x028  6      3655763419  ---  Logical Sectors Read
0x01  0x030  6         7494155  ---  Number of Read Commands
0x03  =====  =               =  ===  == Rotating Media Statistics (rev 1) ==
0x03  0x008  4             520  ---  Spindle Motor Power-on Hours
0x03  0x010  4             520  ---  Head Flying Hours
0x03  0x018  4              16  ---  Head Load Events
0x03  0x020  4               0  ---  Number of Reallocated Logical Sectors
0x03  0x028  4               0  ---  Read Recovery Attempts
0x03  0x030  4               0  ---  Number of Mechanical Start Failures
0x04  =====  =               =  ===  == General Errors Statistics (rev 1) ==
0x04  0x008  4               0  ---  Number of Reported Uncorrectable Errors
0x04  0x010  4               0  ---  Resets Between Cmd Acceptance and Completion
0x05  =====  =               =  ===  == Temperature Statistics (rev 1) ==
0x05  0x008  1              37  ---  Current Temperature
0x05  0x010  1              35  N--  Average Short Term Temperature
0x05  0x018  1               -  N--  Average Long Term Temperature
0x05  0x020  1              56  ---  Highest Temperature
0x05  0x028  1              22  ---  Lowest Temperature
0x05  0x030  1              41  N--  Highest Average Short Term Temperature
0x05  0x038  1              25  N--  Lowest Average Short Term Temperature
0x05  0x040  1               -  N--  Highest Average Long Term Temperature
0x05  0x048  1               -  N--  Lowest Average Long Term Temperature
0x05  0x050  4               0  ---  Time in Over-Temperature
0x05  0x058  1              60  ---  Specified Maximum Operating Temperature
0x05  0x060  4               0  ---  Time in Under-Temperature
0x05  0x068  1               0  ---  Specified Minimum Operating Temperature
0x06  =====  =               =  ===  == Transport Statistics (rev 1) ==
0x06  0x008  4              60  ---  Number of Hardware Resets
0x06  0x010  4              13  ---  Number of ASR Events
0x06  0x018  4               0  ---  Number of Interface CRC Errors
                                |||_ C monitored condition met
                                ||__ D supports DSN
                                |___ N normalized value

SATA Phy Event Counters (GP Log 0x11)
ID      Size     Value  Description
0x0001  2            0  Command failed due to ICRC error
0x0002  2            0  R_ERR response for data FIS
0x0003  2            0  R_ERR response for device-to-host data FIS
0x0004  2            0  R_ERR response for host-to-device data FIS
0x0005  2            0  R_ERR response for non-data FIS
0x0006  2            0  R_ERR response for device-to-host non-data FIS
0x0007  2            0  R_ERR response for host-to-device non-data FIS
0x0009  2            1  Transition from drive PhyRdy to drive PhyNRdy
0x000a  2            2  Device-to-host register FISes sent due to a COMRESET
0x000b  2            0  CRC errors within host-to-device FIS
0x000d  2            0  Non-CRC errors within host-to-device FIS

ご覧のとおり、ドライブの電源オン時間は520です(これは1か月未満で正確です)が、2つのエラーは10610時間と16878時間で発生したと言っており、明らかに不可能です。

ここで何が起こっていますか? エラーは本当ですか?気になる?ベンダーによって何らかの「オドメーター改ざん」が行われている可能性はありますか?


更新

(私はこれよりずっと前に持っていただろうが、HGST Western Digital :/は本当に役に立たない(それらについての情報をまったく保持しないのであれば、なぜOEMドライブにシリアル番号を与えるのか?)、そして応答も遅い。)

これらを取り付けたとき、古いラベルのようにラベルに製造日がないことに気づいていましたが、それをメーカーにそれ以上印刷せずにチョークで書き、それ以上何も考えませんでした...までDeltikの素晴らしい答えを見ました。 これらは消去されませんでした(または効果的に消去できました)。

メーカー(新しい所有者)から公式の言葉を得ようとする試みが失敗した後、それらをすべて引き出して、フラットベッドスキャナーを最大の設定で 'em'に接続しました。古いズームとエンハンスを行うことで、それぞれが消去された証拠を見つけることができました。読みやすい例の1つを次に示します。

(オリジナル5717×8117px、64.0MB .pngは慈悲のため省略)

削減され、編集された.jpgの概要:

削減され、編集された.jpgの概要

元の解像度は、犯罪現場(ラベルの右上隅)のトリミングされた.pngです。

犯罪の現場のトリミングされた元の解像度(ラベルの右上隅)

あなたのより目が鋭い人はおそらくすでにそれを読むことができますが、ここに自動レベルの長方形があります:

自動レベルの長方形

ええ すべてのドライブには、この意図的な詐欺の試みによる微妙な痕跡が残っており、それらはすべて2015年3月/ 4月/ 5月のものです。2018年11月末の「新しい」という意味ではありません。

さらに、他のコメンターの一部がそうであるように、私はSMARTがこのように破壊される可能性があることにかなりショックを受けています。リセットできる場合、ほとんどのポイントは失われていませんか?

私はこれをさらに追求します、あなたを信じてください。このスペースをご覧ください。


4
その16.8k時間はステッカーの製造日と一致していますか?または、そのエラーはドライブが作成される前から発生したのでしょうか?
ピーターコーデス

2
@PeterCordes、非表示にしようとした日付を確認できるようになったので、実際には一貫しています。
アタリオ

回答:


129

「オドメーター改ざん」の疑いは正しいと思いますが、それは可能です。記録されたエラーは、読み取り時に不良セクタを示しているため、本当の可能性が高く、間違いなく心配です。ディスクはおそらくあなたに届く前に消去されたため、これらの不良セクタはおそらく再マップされています。

ハードドライブを販売したユーザーは、SMART属性をリセットして、新しいハードドライブのように見せます。


逸話

2015年7月25日に、goHardDrive.comから6台の非常によく似たハードドライブを購入しました。すべてのディスクを確認したところ、ほぼ同じ症状が発生しました。

root@box52:~# smartctl -a /dev/sdb
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-57-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Hitachi Deskstar 7K2000
Device Model:     Hitachi HDS722020ALA330
Serial Number:    JK1101B9G7U8NF
LU WWN Device Id: 5 000cca 222c38d7e
Firmware Version: JKAOA3MA
User Capacity:    2,000,398,934,016 bytes [2.00 TB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    7200 rpm
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ATA8-ACS T13/1699-D revision 4
SATA Version is:  SATA 2.6, 3.0 Gb/s
Local Time is:    Thu Jul 30 13:57:13 2015 CDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART STATUS RETURN: incomplete response, ATA output registers missing
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
Warning: This result is based on an Attribute check.

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x80) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (23653) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x5b) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        ( 394) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x000b   100   100   016    Pre-fail  Always       -       0
  2 Throughput_Performance  0x0005   100   100   054    Pre-fail  Offline      -       0
  3 Spin_Up_Time            0x0007   100   100   024    Pre-fail  Always       -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       1
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   005    Pre-fail  Always       -       2
  7 Seek_Error_Rate         0x000b   100   100   067    Pre-fail  Always       -       0
  8 Seek_Time_Performance   0x0005   100   100   020    Pre-fail  Offline      -       0
  9 Power_On_Hours          0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       0
 10 Spin_Retry_Count        0x0013   100   100   060    Pre-fail  Always       -       0
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       1
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       1
193 Load_Cycle_Count        0x0012   100   100   000    Old_age   Always       -       1
194 Temperature_Celsius     0x0002   206   206   000    Old_age   Always       -       29 (Min/Max 25/29)
196 Reallocated_Event_Count 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       2
197 Current_Pending_Sector  0x0022   100   100   000    Old_age   Always       -       0
198 Offline_Uncorrectable   0x0008   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x000a   200   200   000    Old_age   Always       -       0

SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 2
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 2 occurred at disk power-on lifetime: 31311 hours (1304 days + 15 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 ff 01 58 5d 08  Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 00 00 58 5d 40 00   9d+05:13:00.528  READ DMA EXT
  25 00 00 00 57 5d 40 00   9d+05:12:59.801  READ DMA EXT
  25 00 00 00 56 5d 48 00   9d+05:12:59.797  READ DMA EXT
  25 00 00 00 55 5d 48 00   9d+05:12:59.794  READ DMA EXT
  25 00 00 00 54 5d 48 00   9d+05:12:59.789  READ DMA EXT

Error 1 occurred at disk power-on lifetime: 31243 hours (1301 days + 19 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  40 51 ff 01 58 5d 08  Error: UNC 255 sectors at LBA = 0x085d5801 = 140335105

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  25 00 00 00 58 5d 40 00  41d+18:29:24.394  READ DMA EXT
  25 00 00 00 57 5d 48 00  41d+18:29:24.388  READ DMA EXT
  25 00 00 00 56 5d 40 00  41d+18:29:24.383  READ DMA EXT
  25 00 00 00 55 5d 40 00  41d+18:29:24.376  READ DMA EXT
  25 00 00 00 54 5d 40 00  41d+18:29:24.371  READ DMA EXT

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%         0         -

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

SMARTエラーが原因で、消去を忘れたり消去できなかったりしていなければ、購入したディスクは新品であると確信していたでしょう。

不審なことに、私はHitachi Global Storage Technologiesに電話をかけ、購入した5年近く前の2010年9月24日に少なくとも2つのディスクの保証が有効になったことを知りました。メーカーの保証は3年後に失効しました。

売り手への苦情で、私は書いた:

SMART属性値を消去することは、車の走行距離計をゼロにすることに似ています。SMART属性を消去する際の大きな問題は、私のようなエンドユーザーが、セクターが再割り当てされたかどうかを特定する方法がないことです。再割り当てされたセクタがない場所から、再割り当てされたすべてのスペアセクタに至る場所があります。これらのドライブは5年近く前のもので、ドライブの少なくとも1つが電源投入された時間の73.7%を超えていることを考えると、私が知らないリマップセクターが存在する可能性が非常に高くなります。

goHardDrive.comは欠陥のあるハードドライブを少なくとも1台販売し、6台すべてのハードドライブの動作履歴を故意に消去し、販売時のハードドライブの使用済みの性質を明らかにしませんでした。

また、ハードドライブの写真を撮りました。

goHardDrive.comのSketchy Hard Drives –画像の下部にあるハードドライブは参照ドライブです。

イメージの下部にあるハードドライブは、同じメーカーの参照ディスクです。

参照ディスクがAPR-2012印刷されており、製造時期が示されていることに注意してください。製造日は、私が購入した6つのディスクから削除されましたが、十分ではありませんでした。かすかに確認できる中央のディスクを見てくださいAUG-2010

これにより、ディスクの履歴が確実に確認できます。「オドメーター」がリセットされた使用済みハードドライブを購入しました。

最終的に、売り手は返品のリクエストを受け入れ、全額払い戻しのためにすべてのディスクを送り返しました。

購入するハードドライブに注意してください!摩耗の兆候が残っていないか確認してください。


34
ああ、いい答えだ。SMART属性をリセットできるとは知りませんでした。私は中古ディスクを購入したことがなく、今までそうするつもりはありません:)
DavidPostill

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おそらく、この行為は貿易法の違反にもなります。なぜなら、彼らがしたことは基本的にミセル/詐欺だからです。問題をさらに進めることを検討しましたか?
軌道での軽量レース

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@DavidPostill:どうやらDeltikもそうするつもりはなかったようですが、大ざっぱなベンダーによる詐欺の犠牲者でした。
R ..

12
@Deltikこの振る舞いはおそらく報告されずに続いているのではないかと心配しています。
軌道

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友人が誤って「新しい」SDカードを再フォーマットし、クリスマスの写真を紛失したため、リカバリツールを実行して、これまでに見たことがない人の写真を200枚以上回収しました。また、SDRAMに注意してください-メーカーIDはPCB上のシリアルPROMに保存されるだけで、何でも言うようにプログラムできます-「サムスン」のスペルを間違えると明らかになります
ロドニー
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