SMARTは賢く使用できますか?


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数年前、私は疫病のようなSMARTを避けるように言われました。その理由は、テストによってドライブにかかるストレスが実際にドライブを故障させることでした。

これはまだ事実ですか?そうでない場合、テストを実行する合理的な頻度は何ですか?それでも回避する必要がある場合、ハードドライブの状態を監視するより良い方法は何ですか?

回答:


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確かにSMARTはすべての障害を予測するわけではありませんが、私はコンピューター修理工場で数年間働いていましたが、SMARTエラーメッセージは、障害が発生する直前の最初の兆候であり、ドライブの前に顧客のデータを保存できました死亡しました。

テクノロジー自体はドライブにストレスを与えることはなく、ドライブの障害につながる可能性のある次のような多くのインジケーター(ここに完全なリスト:http : //en.wikipedia.org/wiki/SMART)を追跡します。

  • 読み取りエラー率
  • 再割り当てセクター数
  • スピン再試行回数
  • 修正不可能なセクター数
  • 電源オン時間

SMARTのパフォーマンスヒットはごくわずかであり、ドライブにストレスをかけません(監視は受動的です)。また、お子様(またはMP3コレクションまたはハードドライブで重要なもの)のすべての写真を失うことを警告する可能性があります。 )。

要するに、オンのままにしておきます。


オリジナルのポスターは、SMART(「長い」テストを手動で実行)で実行できるアクティブな表面テストの危険性について語られたと思います。あなたが言うように、バスはデフォルトで受動的であり、常に有効にする必要があります。個人的には、月1回ドライブでアクティブテストも実行しています。
コーラスナハブー2009年

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SMARTは、パフォーマンスカウンターとイベントを受動的に記録するだけでなく、ドライブによって実行されるいくつかのタイプのセルフテストを開始し、後で結果を取得するためのインターフェイスを提供します。

これらのテストの一部では、オンラインのままホスト要求に応答しながらプラッター表面全体をスキャンするため、大量のI / Oにより大量の脱穀が発生します。

後者はあなたが言われた重大な誤解の原因だと思います。SMARTはいいですね。


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しばらく前に、Googleは調査(PDF)「大容量ディスクドライブの故障傾向」を実施しました。使用するドライブが大量にあり、調査で次のことが示されました。

分析では、障害と高度に相関するドライブの自己監視機能(SMART)のいくつかのパラメーターを特定します。この高い相関関係にもかかわらず、SMARTパラメーターのみに基づいたモデルは、個々のドライブ障害の予測に役立つとは考えにくいと結論付けています。驚くべきことに、温度と活動レベルは、以前に報告されたよりもドライブ障害との相関がはるかに低いことがわかりました。

したがって、温度はドライブのストレスよりもはるかに大きな要因です。さらに、この新しいドライブで常に発生するすべてのエラー修正により、制御できないほど多くのストレスが追加されます。ドライブのメンテナンス(または復旧)を提供するツールを探しているなら、SpinRiteをお勧めします。スティーブ・ギブソンによるもので、素晴らしい製品です。


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あなたの参考文献は、温度がドライブの故障と相関していないと言っていませんか?...しかし、あなたはそれを「はるかに大きな要因」と考えていますか?意味を明確にしてください
マイケルハレン

私はそれを間違って読んでいますか?温度はドライブの故障と強く相関していないと言いますよね?どちらもその論文による活動ではありません。
MrChrister

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「つまり、温度はドライブにかかるストレスよりもはるかに大きな要因です。」-どこからそれを結論づけますか?あなたが引用した段落は、温度はそれほど相関していないと述べました。
ジョーフィリップス

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-1は、論文の要約を正しく読まなかっただけでなく、時間をかけて全体を読まなかったためです。ドライブの障害は、通常、製造上の欠陥(図3に示すように、最初の3か月で使用率が高いため、コンポーネントエラーを排除します。使用後の障害が収束し始めます)、または時間の経過による劣化です。経時劣化は、SMARTが取り上げるものです。図5は、温度がまったく大きな要因ではないことを示しています。実際、レポートでは、最初の3年以内に、温度の低いドライブほど高温のドライブよりも障害の変化が大きいことを示しています。
イアン
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