フラッシュICの奇数マーク-これらの工場での拒否はありますか？

33

最近、本当に安いSSD（$ 25.99）を購入しました。好奇心からケースを開けました。

フラッシュチップには、部品番号全体にバーがエッチングされています。

ここに画像の説明を入力してください

これは、チップを不良品としてマークする標準的な方法ですか？

編集：RAID-1に入れるためにそれらのうち2つを購入しました。あまり信頼していないためです。

ここに画像の説明を入力してください

これはMicronフラッシュを使用していますが、マーキングは同じです。

この時点で、フラッシュの部品番号を隠すのは本当に、本当に、本当に効果のない試みであるに違いないと思いますか？

ミクロン部分はMT29F128G08CBECBH6-12:Cであり、これは16Gバイトの部分であるため、64 GBのrawストレージがあります。

他の部品は「Spectek」ブランドです。これは、これまで聞いたことのないミクロンの子会社です。これらFBNL95B71KDBABH6-10ALは16ギガバイトの部分であるように見えます。

編集：

最初のドライブはsudo badblocks -b 4096 -c 4096 -s -w /dev/sdmエラーなしで渡されたため、容量は実際の容量であり、少なくとも1回の書き込みに適しています。

編集編集：

訂正：どちらかがbadblocks私のEL-安っぽいUSB-SATAアダプタがクラッシュし、またはそれらを行ういくつかの問題があります。

編集編集編集：

さて、badblocksドライブで実行すると、ディスクが恐ろしく混乱したようです。SMARTレポートは次のとおりです。

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ sudo smartctl /dev/sdm -a
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-79-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     KingDian S200 60GB
Serial Number:    2016022700031
LU WWN Device Id: 0 000000 000000000
Firmware Version: 20150818
User Capacity:    60,022,480,896 bytes [60.0 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 1.5 Gb/s)
Local Time is:    Sun Mar 20 19:15:31 2016 PDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x11) SMART execute Offline immediate.
                                        No Auto Offline data collection support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        No Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0002) Does not save SMART data before
                                        entering power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  10) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0002   100   100   050    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
160 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
161 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       125
162 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
163 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       20
164 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4943
165 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       12
166 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
167 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4
192 Power-Off_Retract_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
194 Temperature_Celsius     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       40
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2857
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       72
245 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       9517

Warning! SMART ATA Error Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 1

ATA Error Count: 0
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 21930 hours (913 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 03 ff 93 01 00 ce

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  03 00 00 00 00 00 b9 00      00:00:00.288  CFA REQUEST EXTENDED ERROR
  00 00 00 00 00 00 01 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 00 b3 01 18 00 08 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 02 01 00 00 00 00 4c      16:05:33.861  NOP [Reserved subcommand] [OBS-ACS-2]
  03 00 07 00 00 00 ce 00      00:18:34.183  CFA REQUEST EXTENDED ERROR

Error -4 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  04 51 f0 d0 3e 44 a0  Error: ABRT

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  b0 d0 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ DATA
  b0 d5 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 d5 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 da 00 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART RETURN STATUS
  b0 d1 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ ATTRIBUTE THRESHOLDS [OBS-4]

Warning! SMART Self-Test Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed without error       00%         0         -

Selective Self-tests/Logging not supported

この時点で、私は約一週間ドライブしました。918日前にどのようにエラーが発生したのかわかりません。

さらに、： Error -4。ええ、SMARTログには負の数があるとは思わない。おっと？

この時点で、不良ブロックでドライブを再テストすると、デバイスは実際にドロップアウトしてから再接続します。

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ dmesg | tail -n 50
[2048975.197941] sd 12:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2048975.198218] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.198728] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.200188] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.200633] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.214949]  sdm: unknown partition table
[2048975.215831] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.216456] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.216915] sd 12:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk
[2049068.016741] usb 3-5: reset high-speed USB device number 16 using xhci_hcd
[2049068.036966] usb 3-5: device firmware changed
[2049068.037001] usb 3-5: USB disconnect, device number 16
[2049068.040592] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041057] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.041063] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.041064] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.041065] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.041066] Read(10): 28 00 00 44 3e d0 00 00 f0 00
[2049068.041070] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472528
[2049068.041520] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041974] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.042017] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.042018] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.042018] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.042019] Read(10): 28 00 00 44 3f c0 00 00 f0 00
[2049068.042022] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472768
[2049068.056652] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3c80
[2049068.056654] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3cc0
[2049068.168511] usb 3-5: new high-speed USB device number 17 using xhci_hcd
[2049068.259417] usb 3-5: New USB device found, idVendor=152d, idProduct=2329
[2049068.259420] usb 3-5: New USB device strings: Mfr=1, Product=2, SerialNumber=5
[2049068.259421] usb 3-5: Product: USB to ATA/ATAPI bridge
[2049068.259422] usb 3-5: Manufacturer: JMicron
[2049068.259423] usb 3-5: SerialNumber: 201602270003
[2049068.291104] usb-storage 3-5:1.0: USB Mass Storage device detected
[2049068.291152] usb-storage 3-5:1.0: Quirks match for vid 152d pid 2329: 8020
[2049068.291179] scsi13 : usb-storage 3-5:1.0
[2049069.322875] scsi 13:0:0:0: Direct-Access     KingDian  S200 60GB       2015 PQ: 0 ANSI: 2 CCS
[2049069.323058] sd 13:0:0:0: Attached scsi generic sg12 type 0
[2049069.384321] sd 13:0:0:0: [sdm] 117231408 512-byte logical blocks: (60.0 GB/55.8 GiB)
[2049069.384601] sd 13:0:0:0: [sdm] Write Protect is off
[2049069.384603] sd 13:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2049069.384868] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.385353] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.386764] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.387311] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.396568]  sdm: unknown partition table
[2049069.397466] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.398067] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.398513] sd 13:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk

アマゾンに戻って、彼らは行くと思う。私は彼らを返す前に、他の人にも失敗させるように説得することができるかどうかを見ると思います。

編集編集編集編集：

うん、まったく同じ方法でテストすると、2番目のドライブはただひっかかっただけです。おっと？

integrated-circuit 
— コナーウルフ
ソース
3
それは本当に面白いです-彼らは壊れたダイをパッケージングするお金を無駄にしないように、ダイの事前パッケージングをテストできませんか？もし彼らがそのセットアップを持っていないとしたら、おそらくパッケージング+テスト後に不適合をマークしてから「グレー」マーケットに逃げるでしょう。
— クルナルデサイ
シルクスクリーニングプロセス中に問題が発生した可能性があります。その場合、ダイが完全に正常であっても、おそらく拒否されます。好奇心から、SSDをテストしましたか、不良セクタはありますか？
— トムカーペンター
1
@TomCarpenterは、シルクスクリーンマーキングよりもレーザーマーキングのように見えます。実際に2G以上のコントローラーチップをいじくり回して保存しようとするまで、使用可能な大容量を報告する偽の中国製USBドライブを思い出します。
— スペロペファニー16年
4
たぶん、彼らはチップを収穫して自分で売るのを思いとどまらせるためにそうするでしょう。
— トカマク
1
両方のタイプのフラッシュが同じ製造業者（またはその子会社）である場合、それらはおそらく同じ製造工場で製造された（そして同じ場所にパッケージされた）可能性があります。したがって、たとえそれらが異なるICであっても、同じマーキングで拒否される可能性は完全にあります。実際、同じ製品に2つの完全に異なるフラッシュICが存在するということは、「手に入れることができるものなら何でも使用する」という態度を示唆しているように見えます。
— トムカーペンター

回答:

19

SpecTekのNANDフラッシュプロダクトマネージャーであるTed Netzにメールを送りました。彼が言わなければならないことは次のとおりです（いくつかのマイナーな文法とフォーマットの修正があります）：

こんにちはアダム、

このように製品にマークを付けます。これは、機械的な欠陥がある可能性がありますが、多くの場合電気的に良好なテスト済みの部品の一種です。リスク商品としてそのまま割引価格で販売し、RMAのすべての良いデバイスとして返品できないように、3バーの改ざんを行います。機械的な欠陥は通常、自動スキャン手順を通過させません。通常、共面性のために失敗するか、ボールが欠落したり破壊されたりする可能性があります。人々は部品をやり直し、それを再テストすることになっています。ただし、これらのデバイスはすべてのパフォーマンス基準を満たしていない可能性があるため、通常、これらのデバイスをUSBアプリまたは下位層アプリに制限することをお勧めします。同様に、お客様のリワークプロセスを制御できないため、このようなデバイスの保証は行いません。

しかし、これらには別の奇妙なことがあります。余分な文字H16 62は、マーキングスキームの一部ではありません。この方法でMicronマークおよび/またはSpecTekマークの両方を偽造して、SpecTekのオリジナルとしてパーツを偽装させました。私にとって奇妙なことは、ピン1マークに隣接するスクライブです。SpecTekでマークされたドライブでは、3つのマークでフォントが異なります。これらのマークは、一般的なMicronスクライブフォントとは異なります。とにかくこれが役立つことを願っています。

Thx-テッド

したがって、3本のバーは、機械的な欠陥を伴う高リスクの無保証割引フラッシュの合法的なマーキングです。顧客は自分でチップを作り直してテストすることになっています。ただし、余分なマーキングに基づいて、ドライブ内のチップが偽造されている可能性があります。低品質の製品を偽造するのは簡単かもしれません。

— アダム・ハウン
ソース
3
それは魅力的です。これについてお問い合わせいただきありがとうございます！
— コナーウルフ
1
余分なマークは、部品を作り直してテストした第三者によって追加された可能性があります。同様に、それらはQAコードです。異なるメカニズムを介して適用されたように見えます。
— ジョンミーチャム
@JohnMeacham両方のドライブの障害に基づいて、テストが行​​われたことには懐疑的です。しかし、第三者がおそらく余分なキャラクターを追加したことに同意します。
— アダムハウ
@AdamHaun-同じ方法で失敗したように見えることを考えると、バグのあるファームウェアは不良フラッシュよりも可能性が高いと思いますが、それは単なる推測です。
— コナーウルフ
@ConnorWolfたぶん。ただし、ファームウェアは簡単にコピーでき、コントローラーにはシリコンモーションの部品番号が付いています。彼らは合法的な会社のようです。そのファームウェアがいた場合、私は驚かれると思いそのバギー。サードパーティ製の偽造ファームウェア、一方で...
— アダムHaun
-1

おそらくチップは良好ですが、チップにマーキングを印刷するマシンに障害がありました。しかし、それらはまだ販売され使用されていました。

一部のデバイスでは、ICを識別できないようにするために何らかの方法でマーキングが削除されたチップを見ましたが、これは安価なリッピングメーカーによる回路のコピーを防止しようとしている可能性があります。（そして、私のようなDIY愛好家。）

— フランクB
ソース
2
私たちはコメントの最初のポイントを議論しましたが、それはありそうもないようです。第一に、それらはOPなどによって指摘されたレーザーマーキングであり、第二に、ラインは製造後に行われたことを示唆する元のマーキングと整列していません。2番目のポイントもコメントで言及されていますが、そうである場合は、誰でも非常に悪い仕事をしました。
— トムカーペンター
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