これは機能し、数値だけでなく割り込みも返されます。確認しました。からダウンロードしてください。
正確さとグリッチはまだ決まっていません。しかし、このスレッドの@Bence Kaulicsによって示されているように、Appnotesで十分に説明されています(追加のAppNotesについては、results.txtを参照してください)
以下の理由で安定すると思います。
a) The circuit diagram in RM0091 shows a direct connection from comparator to pin. i.e. it is indicated that the comparator cannot be disconnected with a switch or MUX, and will thus work as soon as the pin is assigned 'analog in'.
b) The comparator is NOT dependent on a 'Clock' to enable it (it is alow power device).
c) ST would not be able to make this level of change without assigning a new part number.
The good news is that one can continue to use the comparator for high-speed events such as over current and emergency stop etc whilst still using the ADC analog window events for other software control.
これはDACでも機能します。つまり、DACを使用して内部全体を設定することも、DACといくつかの抵抗を使用して外部で設定することもできます。
回路を見るだけで、ADCをコンパレーターと並列に使用します。私たちが知っているように、これらは非常に高インピーダンスの大利得デバイスです。グリッチは私たちの友達ではありません。
今度は、ADCに給電するために、放電したキャップをそのピンに時々ぶつけます。
誰もが知っているように、ADCをオーバーサンプリングし、マルチプレクサスイッチイベントの後の最初の読み取りを拒否して、隣接チャネルとの間のスキューを排除する必要があります。
STMのADCは、使用方法に応じて、入力インピーダンスがやや<50K // 5pFです。(DM00039193.pdf pg 76ff)
表53は、400-> 50KOhmを示しています。これは、F373 ADCをキャリブレーションしたときのことです。
79ページはADC回路を示しています。
Pg 82は、上記のアナログピンの一般的な説明(pg73ff)と合わせて読んで、コンパレータピンの短い説明を提供します
それをコンパレータ入力およびADC MUXと並列に配置し、スパイスでモデル化します。ADCキャップを定期的にランダムな電圧に充電することを忘れないでください。
回路とソフトウェアで他に何が起こっても、コンパレータ入力にかなり妥当なグリッチが発生します。ピンを低インピーダンスのフォロワとデカップリングキャップ(コンパレータ入力の移動ライン上)に接続したとしても、悪い考えです。
ADCが使用するキャップはキラーです。うまくいけば、将来のデバイスは、ADCとコンパレータの両方で内部フォロワー/アイソレーターを使用してサンプリングを行うでしょう。これらは、ドキュメント化されていない機能としてすでに存在している可能性があります(muxクロストークが原因ではない可能性があります)。
私と同じように、私はデジタルの側面に深く関わっていて、アナログやハイブリッドに移行すると、基本を忘れてしまうと思います。
電流-電圧コンバータを使用して小電流を測定する方法は?昨日誰かと話し合った 私は自分で反則した理由を知っていました。最高の3Vから50Kへの変換でも、16K /ボルトのAVOが得られます。最後にそのようなAVO /マルチメーターを使用したのはいつですか?
そうは言っても、F373の回路を見ると、STとARMは、混合デバイスで同時に使用されているコンパレータとADCの両方から有効な結果を得ることができるようになっているように思われます。150および300シリーズにオペアンプを追加すると、インピーダンス分離要件に関する手掛かりが得られます。
これらの内部相互接続が設計された環境を、私よりも賢い人が再設計できると確信しています。私は自動車かHVAC ....インバータとFOCを考えるでしょう。FOCライブラリは貴重な洞察を提供する可能性があります。
高速で高精度の計測器を構築しているのでない限り、そのような使用法は実際に使用するのに十分安定している可能性があります(上記の警告内)。それは確かに多くの外部回路を節約します。高速での厳密なテストは、おそらく生徒の練習問題として残しておくのが最善です(私を誘惑して勉強してください)。
解決策はこちら。
HAL ADCライブラリは、マルチチャネルDMAで少し壊れているようです。回答を得るためにSTMウェブサイトに投稿しました。回避策:-
a)両方のADCのIRQ
b)両方のADCをポーリングする
c)1つのチャネルをDMAし、もう1つのチャネルをポーリングする
d)低レベルレジスタを手動で初期化する
これは、より良いソリューションが見つかるまで、両方のコンパレータが使用されるソリューションのもう1つの警告です。